医疗设备对测量技术提出了诸多挑战。凭借测量设备，WENZEL提供了多种解决方案来应对这些挑战。无论是能够用CORE非接触测量的高度抛光零件，还是可以用工业计算机断层扫描X光的塑料模制零件。WENZEL 为你提供了合适的解决方案。
医疗器械和仪器的合适测量方案取决于多种因素。特别是使用地点、批次大小和组件的复杂度是决定性的。
组装完成后，复杂的电子设备，如助听器，甚至可以通过我们的计算机断层扫描eXact系列进行整体测量。只需一眼，就能发现关于尺寸精度和材料质量的所有信息。
植入物和假体对测量技术构成了许多挑战，因为它们在人体中的位置不允许容错。即使是最微小的维度偏差，也可能对佩戴者造成严重后果。这就是为什么对零部件极其精准的质量控制是不可替代的。许多部件具有特殊位置，使得触觉测量变得不可能。
因此，WENZEL通过CORE S提供了一台测量机，能够在无接触的情况下测量高度抛光的部件，如人工膝关节，无需表面预处理。
与WM |RS-C 可以从纳米尺度观察植入物和假体的表面结构。即使是高度抛光的元件，二维白光干涉仪也没有问题。
